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1、题目:X射线荧光光谱(XRF)定性分析的核心依据是元素的
选项
A. 特征荧光X射线波长
B. 荧光强度
C. 原子量
D. 化合价
2、题目:能量色散X射线能谱(EDS)与波长色散X射线能谱(WDS)相比,优势是
A. 能量分辨率更高
B. 检测速度更快
C. 定量精度更高
D. 仅适用于重元素检测
3、题目:电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)中,等离子体的产生依赖
A. 高压电弧放电
B. 射频电场耦合
C. 化学燃烧反应
D. 激光激发
4、题目:氧氮氢分析仪(ONH)检测氮元素的核心方法是
A. 红外吸收法
B. 热导法
C. 比色法
D. 质谱法
5、题目:激光诱导击穿光谱(LIBS)形成等离子体的能量来源是
A. 连续激光
B. 脉冲激光
C. X射线
D. 微波辐射
6、题目:碳硫分析仪检测碳元素的常用原理是
A. 燃烧-红外吸收法
D. 荧光光谱法
7、题目:电火花原子发射光谱(OES)的激发源是
A. 高压电火花放电
B. 等离子体
C. 激光
D. 化学火焰
8、题目:比色法检测元素的核心原理是基于
A. 元素特征光谱波长
B. 显色反应后的吸光度
C. 荧光强度
D. 导热系数差异
9、题目:X射线光电子能谱(XPS)的核心应用是分析
A. 元素定性
B. 元素定量
C. 表面元素价态
D. 内部元素分布
10、题目:燃烧法检测氢元素时,样品燃烧产物是
A. HO
B. H
C. HCl
D. NH
11、题目:XRF定量分析中,用于校正基体效应的常用方法是
A. 外标法
B. 内标法
C. 归一化法
D. 直接比较法
12、题目:ICP-OES的检测限通常处于什么级别
A. ppm级(10)
B. ppb级(10)
C. ppt级(10)
D. %级(10)
13、题目:EDS检测的采样区域大小主要取决于
A. X射线管功率
B. 探测器面积
C. 电子束斑大小
D. 样品厚度
14、题目:ONH检测中,避免氧污染的关键措施是
A. 使用高纯氩气保护
B. 提高熔融温度
C. 缩短检测时间
D. 增加样品用量
15、题目:LIBS检测的突出优势是
A. 无需样品前处理
B. 定量精度极高
C. 检测限极低
D. 仅适用于固体样品
16、题目:碳硫分析仪检测硫元素时,硫转化的产物是
A. SO
B. SO
C. HS
D. S
17、题目:电火花OES的适用样品类型主要是
A. 液体样品
B. 固体金属样品
C. 粉末样品
D. 气体样品
18、题目:比色法中,显色反应的要求不包括
A. 反应特异性强
B. 显色产物稳定
C. 反应速度快
D. 产物无色
19、题目:XPS的采样深度通常为
A. 1-10nm
B. 10-100nm
C. 100-1000nm
D. 1-10μm
20、题目:燃烧法检测碳元素时,使用的助燃气体是
A. 氮气
B. 氧气
C. 氩气
D. 氢气
21、题目:XRF检测中,滤光片的作用是
A. 激发样品产生荧光
B. 过滤干扰波长的X射线
C. 增强荧光强度
D. 改变荧光波长
22、题目:ICP-OES中,雾化器的核心作用是
A. 将溶液样品转化为气溶胶
B. 产生等离子体
C. 检测特征光谱
D. 分离不同波长光谱
23、题目:EDS的能量分辨率通常以什么峰为参考
A. CKα峰
B. AlKα峰
C. MnKα峰
D. CuKα峰
24、题目:ONH检测中,热导检测器(TCD)的工作原理基于
A. 不同气体的导热系数差异
B. 气体的红外吸收特性
C. 气体的电离能差异
D. 气体的折射率差异
25、题目:LIBS与XRF相比,更适合的场景是
A. 实验室高精度定量
B. 现场快速检测
C. 痕量元素分析
D. 液体样品检测
26、题目:碳硫分析仪的高频感应炉作用是
A. 产生高频电场激发光谱
B. 提供燃烧所需高温
C. 检测CO和SO
D. 净化气体
27、题目:电火花OES的定量分析依据是
A. 特征光谱的波长
B. 特征光谱的强度
C. 光谱的半高宽
D. 光谱的峰位偏移
28、题目:比色法中,朗伯-比尔定律的表达式是(A为吸光度,ε为摩尔吸光系数,b为光程,c为浓度)
A. A=εbc
B. A=εb/c
C. A=εc/b
D. A=bc/ε
29、题目:XPS检测中,化学位移的产生是因为元素的
A. 原子序数变化
B. 化学环境(价态)变化
C. 浓度变化
D. 物理状态变化
30、题目:燃烧法检测氢元素时,用于吸收HO的试剂是
A. 无水氯化钙
B. 氢氧化钠
C. 浓硫酸
D. 无水碳酸钠
31、题目:XRF检测中,基体效应是指
A. 样品基体对荧光X射线的吸收或增强
B. 仪器基体产生的背景干扰
C. 样品表面粗糙度的影响
D. 激发源强度的波动
32、题目:ICP-OES的线性范围通常为
A. 1-3个数量级
B. 3-6个数量级
C. 6-9个数量级
D. 9-12个数量级
33、题目:EDS检测的元素范围通常是
A. H-U
B. Li-U
C. C-U
D. O-U
34、题目:ONH检测中,样品的制备要求是
A. 溶解为溶液
B. 加工成块状样品
C. 研磨成粉末
D. 无需制备直接检测
35、题目:LIBS检测中,等离子体的温度通常为
A. 1000-3000K
B. 3000-6000K
C. 6000-10000K
D. 10000-20000K
36、题目:碳硫分析仪中,红外检测器的作用是
A. 产生红外光
B. 吸收CO和SO的特征红外光
C. 加热样品
37、题目:电火花OES的电极材料通常为
A. 钨
B. 铜
C. 铁
D. 铝
38、题目:比色法中,选择显色剂的关键原则是
A. 显色剂本身有强颜色
B. 显色剂与目标元素反应特异性强
C. 显色剂易溶于水
D. 显色剂价格低廉
39、题目:XPS谱图的横坐标通常为
A. 波长(nm)
B. 能量(eV)
C. 强度(counts)
D. 浓度(%)
40、题目:燃烧法检测碳元素时,样品燃烧后的气体需经过
A. 干燥剂除水
B. 还原剂还原
C. 氧化剂氧化
D. 催化剂催化
41、题目:XRF检测中,X射线管的靶材选择依据是
A. 检测元素的原子序数
B. 样品厚度
C. 检测速度要求
D. 仪器功率
42、题目:ICP-OES中,炬管的作用是
A. 雾化样品
C. 检测光谱
D. 分离光谱
43、题目:EDS检测中,计数率的定义是
A. 单位时间内检测到的光子数
B. 单位时间内检测到的特征峰数
C. 单位时间内检测到的电子数
D. 单位时间内检测到的离子数
44、题目:ONH检测中,氧元素的检测原理是
A. 氧与碳反应生成CO,红外吸收法测量
B. 氧与氢反应生成HO,热导法测量
C. 氧直接被热导检测器检测
D. 氧与金属反应生成氧化物,重量法测量
45、题目:LIBS检测中,特征光谱的波长用于
C. 等离子体温度测量
D. 样品浓度测量
46、题目:碳硫分析仪的检测范围通常为
A. 0.0001%-10%
B. 0.01%-50%
C. 0.1%-90%
D. 1%-100%
47、题目:电火花OES的检测速度通常为
A. 秒级
B. 分钟级
C. 小时级
D. 天级
48、题目:比色法中,吸光度与浓度的关系是
A. 线性关系
B. 非线性关系
C. 指数关系
D. 对数关系
49、题目:XPS检测中,光电子的结合能是指
A. 电子的动能
B. 电子从原子中逸出所需的能量
C. 电子的势能
D. 电子的总能量
50、题目:燃烧法检测氢元素的定量依据是
A. HO的质量
B. H的体积
C. HO的浓度
D. H的压强
51、题目:XRF检测中,样品的表面粗糙度要求是
A. Ra≤0.8μm
B. Ra≤1.6μm
C. Ra≤3.2μm
D. Ra≤6.3μm
52、题目:ICP-OES中,常用的载气是
53、题目:EDS检测中,定性分析的步骤是
A. 先确定特征峰位置,再匹配元素
B. 先测量峰强度,再计算浓度
C. 先校准仪器,再测量峰宽
D. 先调整计数率,再识别峰位
54、题目:ONH检测中,样品熔融的坩埚材质通常为
A. 石墨
B. 陶瓷
C. 石英
D. 铂金
55、题目:LIBS检测中,影响检测精度的因素不包括
A. 激光能量稳定性
B. 样品表面平整度
C. 环境湿度
D. 样品的分子量
56、题目:碳硫分析仪中,高频感应炉的功率通常为
A. 1-5kW
B. 5-10kW
C. 10-20kW
D. 20-30kW
57、题目:电火花OES中,样品的导电性要求是
A. 必须导电
B. 无需导电
C. 半导体即可
D. 绝缘材料也可
58、题目:比色法中,最大吸收波长的选择依据是
A. 显色产物的最大吸收波长
B. 显色剂的最大吸收波长
C. 溶剂的最大吸收波长
D. 干扰物质的最大吸收波长
59、题目:XPS检测中,定量分析的依据是
A. 光电子的结合能
B. 特征峰的面积
C. 特征峰的宽度
D. 化学位移
60、题目:燃烧法检测碳硫元素时,氧气的纯度要求是
A. ≥99%
B. ≥99.9%
C. ≥99.99%
D. ≥99.999%
61、题目:XRF检测中,定量分析的校准方法不包括
C. 标准加入法
D. 重量法
62、题目:ICP-OES中,检测器通常为
A. 光电倍增管
B. CCD检测器
C. 热导检测器
D. 红外检测器
63、题目:EDS检测中,元素的特征峰主要来自
A. 电子跃迁产生的特征X射线
B. 原子核衰变产生的γ射线
C. 分子振动产生的红外光
D. 电子衍射产生的干涉光
64、题目:ONH检测中,氢元素的检测限通常为
A. 0.0001%
B. 0.001%
C. 0.01%
D. 0.1%
65、题目:LIBS检测中,用于定量分析的校准方法是
D. 以上都是
66、题目:碳硫分析仪中,红外吸收池的作用是
B. 使CO和SO充分吸收红外光
C. 加热气体
67、题目:电火花OES中,光谱仪的作用是
A. 产生电火花
B. 分离特征光谱
C. 检测光谱强度
D. 分离并检测特征光谱
68、题目:比色法中,干扰物质的消除方法不包括
A. 加入掩蔽剂
B. 控制pH值
C. 改变检测波长
69、题目:XPS检测中,样品的制备要求是
A. 必须为固体
B. 必须为液体
C. 必须为粉末
D. 无特殊要求
70、题目:燃烧法检测氢元素时,吸水剂的选择要求是
A. 仅吸水,不吸收其他气体
B. 吸水且吸收CO
C. 吸水且吸收O
D. 吸水且吸收N
71、题目:XRF检测中,样品的厚度要求是
A. 越厚越好
B. 越薄越好
C. 在饱和厚度范围内
D. 无明确要求
72、题目:ICP-OES中,样品前处理的核心目的是
A. 将样品转化为可雾化的溶液
B. 去除干扰元素
C. 浓缩目标元素
D. 降低样品粘度
73、题目:EDS检测中,定量分析的精度通常低于XRF,主要原因是
A. 能量分辨率低
B. 计数率低
C. 基体效应严重
D. 激发源强度低
74、题目:ONH检测中,氮元素的检测范围通常为
A. 0.0001%-5%
B. 0.001%-10%
C. 0.01%-15%
D. 0.1%-20%
75、题目:LIBS检测中,激光脉冲宽度通常为
A. 纳秒级
B. 微秒级
C. 毫秒级
D. 秒级
76、题目:碳硫分析仪中,高频感应炉的加热时间通常为
A. 数秒
B. 数十秒
C. 数分钟
D. 数十分钟
77、题目:电火花OES中,样品的表面粗糙度要求是
78、题目:比色法中,显色反应的温度要求是
A. 室温即可
B. 必须加热
C. 必须冷却
D. 需严格控制在特定温度
79、题目:XPS检测中,氩离子溅射的作用是
A. 激发样品产生光电子
B. 清洁样品表面
C. 增强光电子信号
D. 改变样品化学状态
80、题目:燃烧法检测碳硫元素时,样品的用量通常为
A. 毫克级
B. 克级
C. 千克级
D. 吨级
81、题目:XRF检测中,滤光片的材质选择依据是
A. 干扰元素的特征波长
B. 目标元素的浓度
C. 样品的厚度
D. 激发源的功率
82、题目:ICP-OES中,雾化器的类型通常为
A. 同心雾化器
B. 超声雾化器
C. 压力雾化器
D. 气流雾化器
83、题目:EDS检测中,元素的特征峰强度与什么成正比
A. 元素的原子序数
B. 元素的浓度
C. 元素的化合价
D. 元素的原子量
84、题目:ONH检测中,氩气的纯度要求是
85、题目:LIBS检测中,样品的预处理要求是
A. 必须溶解为溶液
B. 必须研磨成粉末
C. 无需预处理,直接检测
D. 必须抛光处理
86、题目:碳硫分析仪中,红外光源的波长通常为
A. 2-5μm(中红外区)
B. 0.76-2μm(近红外区)
C. 5-25μm(远红外区)
D. 0.2-0.76μm(紫外区)
87、题目:电火花OES中,光谱仪的分辨率要求是
A. ≤0.01nm
B. ≤0.1nm
C. ≤1nm
D. ≤10nm
88、题目:比色法中,吸光度的测量范围通常为
A. 0-1
B. 0-2
C. 0-3
D. 0-4
89、题目:XPS检测中,常用的X射线源是
A. AlKα或MgKα
B. CuKα或FeKα
C. RhKα或WKα
D. AgKα或AuKα
90、题目:燃烧法检测碳元素时,CO的吸收剂通常为
A. 氢氧化钠
B. 无水氯化钙
91、题目:XRF检测中,样品的材质要求是
D. 固体、液体、粉末均可
92、题目:ICP-OES中,射频发生器的频率通常为
A. 10-20MHz
B. 27-40MHz
C. 40-60MHz
D. 60-80MHz
93、题目:EDS检测中,检测时间通常为
94、题目:ONH检测中,样品的熔点要求是
A. 低于坩埚熔点
B. 高于坩埚熔点
C. 等于坩埚熔点
D. 无要求
95、题目:LIBS检测中,光谱仪的类型通常为
A. 光栅光谱仪
B. 棱镜光谱仪
C. 干涉光谱仪
D. 滤光片光谱仪
交卷
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